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  • LQ-TSLED冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TSLED冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    LED冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用對(duì)象包括汽車配件、LED、金屬、塑料、橡膠、電子等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)和參考。

    更新時(shí)間:2025-04-07型號(hào):LQ-TS
  • 觸摸屏行業(yè)高低溫沖擊試驗(yàn)箱
    觸摸屏行業(yè)高低溫沖擊試驗(yàn)箱

    觸摸屏行業(yè)高低溫沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用對(duì)象包括汽車配件、LED、金屬、塑料、橡膠、電子等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)和參考。

    更新時(shí)間:2025-04-07型號(hào):
  • LQ-TS可程式冷熱沖擊測試試驗(yàn)箱
    LQ-TS可程式冷熱沖擊測試試驗(yàn)箱

    可程式冷熱沖擊測試試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時(shí)間:2025-04-07型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS吊籃式兩廂冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS吊籃式兩廂冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    吊籃式兩廂冷熱沖擊試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

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  • LQ-TS測試電池冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS測試電池冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    測試電池冷熱沖擊試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時(shí)間:2025-04-07型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS冷熱沖擊測試試驗(yàn)箱
    LQ-TS冷熱沖擊測試試驗(yàn)箱

    冷熱沖擊測試試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時(shí)間:2025-04-07型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS玻璃冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱
    LQ-TS玻璃冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱

    玻璃冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時(shí)間:2025-04-07型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS冷熱沖擊溫度老化試驗(yàn)箱
    LQ-TS冷熱沖擊溫度老化試驗(yàn)箱

    冷熱沖擊溫度老化試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

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